基于级联调制器的无模糊微波光子多普勒频移测量方法
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摘要
本发明公开了一种基于级联调制器的无模糊微波光子多普勒频移测量方法，该发明涉及微波光子技术领域。所述方法如说明书附图1所示，包括激光器LD，双偏振马赫增德尔调制器Dpol‑MZM，相位调制器PM，起偏器Pol，掺铒光纤放大器EDFA，密集型波分复用器DWDM，光电检测器PD。本发明将低频参考信号和回波信号分别调制在Dpol‑MZM的上下子调制器MZMx和MZMy上，MZMx工作在正交点进行单边带调制SSB，MZMy工作在最小点进行抑制载波的双边带调制CS‑DSB，Dpol‑MZM输出信号的X轴对准PM的主轴后对发射信号进行相位调制，PM输出经过起偏器Pol，EDFA，DWDM得到期望的正一阶边带信号，送入PD进行拍频，结果通过低频电谱仪ESA检测，能够同时测量多普勒频移的值和方向而不受信号相位影响。
基本信息
专利标题 ：
基于级联调制器的无模糊微波光子多普勒频移测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112698091A
申请号 ：
CN201911009020.4
公开（公告）日 ：
2021-04-23
申请日 ：
2019-10-23
授权号 ：
CN112698091B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
张卓文爱军卓昊
申请人 ：
西安电子科技大学
申请人地址 ：
陕西省西安市雁塔区太白南路2号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201911009020.4
主分类号 ：
G01R23/02
IPC分类号 ：
G01R23/02 H04B10/25
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R23/00
测量频率的装置；频谱分析装置
G01R23/02
频率测量装置，如脉冲重复率的测量；电流或电压周期的测量装置
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2021-05-11 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 23/02
申请日 : 20191023
申请日 : 20191023
2021-04-23 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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