微波多普勒探测设备
授权
摘要
本实用新型提供一种微波多普勒探测设备，其中所述微波多普勒探测设备包括一电磁反射面和与所述电磁反射面相间隔地被设置的至少一对对偶耦合极子，其中一对所述对偶耦合极子具有一第一馈电端和一第二馈电端并自两所述馈电端分别延伸有一第一辐射源极和一第二辐射源极，其中所述第一馈电端和所述第二馈电端相互靠近，并当所述第一辐射源极和所述第二辐射源极分别于所述第一馈电端和所述第二馈电端被同一激励信号馈源馈电时，所述第一辐射源极和所述第二辐射源极的电流与电位分布能够以所述第一馈电端和所述第二馈电端的连线的中点呈对偶分布状态而以对偶方式耦合，降低了对所述微波多普勒探测设备的尺寸要求，并能够避免形成探测死区。
基本信息
专利标题 ：
微波多普勒探测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020403584.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-25
授权号 ：
CN211453982U
授权日 ：
2020-09-08
发明人 ：
邹高迪邹新
申请人 ：
深圳迈睿智能科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区燕罗街道罗田社区象山大道380号3栋2、3楼
代理机构 ：
宁波理文知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
孟湘明
优先权 ：
CN202020403584.8
主分类号 ：
G01V3/12
IPC分类号 ：
G01V3/12 H05B45/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V3/00
电或磁的勘探或探测；；地磁场特性的测量；例如，磁偏角或磁偏差
G01V3/12
利用电磁波操作
法律状态
2020-09-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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