基于浅地层剖面仪与SVM的海底底质识别与分类方法
授权
摘要
本发明公开了一种基于浅地层剖面仪与SVM的海底底质识别与分类方法，包含以下具体步骤：步骤1利用浅地层剖面仪采集指定地点的浅表地层回波声学信号数据；步骤2对步骤1的数据进行预处理，得到SVM训练所需要的训练集与测试集；步骤3采用的RBF核函数模型进行建模，对该模型进行训练，得到水底底质分类模型；步骤4利用交叉验证的方法，多次测试得到最优的参数C和参数γ，进而得到最优的底质分类模型；本发明利用浅地层剖面仪测量数据的SVM底质分类模型，经过训练后可处理大批量的数据，高效率、精准的识别海底底质类型，具有重要的应用价值。
基本信息
专利标题 ：
基于浅地层剖面仪与SVM的海底底质识别与分类方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110806444A
申请号 ：
CN201911111407.0
公开（公告）日 ：
2020-02-18
申请日 ：
2019-11-14
授权号 ：
CN110806444B
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
罗宇郑旭施剑吴逸凡徐辉李斌
申请人 ：
山东科技大学
申请人地址 ：
山东省青岛市黄岛区前湾港路579号山东科技大学
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201911111407.0
主分类号 ：
G01N29/04
IPC分类号 ：
G01N29/04 G06K9/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/04
固体分析
法律状态
2022-06-07 ：
授权
2020-03-13 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 29/04
申请日 : 20191114
申请日 : 20191114
2020-02-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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