红外探测器读出电路铟凸点重置方法

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摘要

本发明公开了一种红外探测器读出电路铟凸点重置方法，方法包括：将读出电路侵入预设温度为T的丙三醇中静置，以去除读出电路上的报废铟凸点；在去除报废铟凸点的读出电路上重新设置规格铟凸点。采用本发明，实现了读出电路铟凸点重置，可以将读出电路上的铟凸点通过物理方法去除，然后重新生长铟凸点，可以避免读出电路因为铟凸点加工问题出现废品，实现读出电路铟凸点加工100％的良品率，进而可以使性能良好的读出电路可以重复多次使用。

基本信息

专利标题：

红外探测器读出电路铟凸点重置方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110993729A

申请号：

CN201911142900.9

公开（公告）日：

2020-04-10

申请日：

2019-11-20

授权号：

CN110993729B

授权日：

2022-04-19

发明人：

张轶蔡晨刘世光孙浩

申请人：

中国电子科技集团公司第十一研究所

申请人地址：

北京市朝阳区酒仙桥路4号

代理机构：

工业和信息化部电子专利中心

代理人：

张然

优先权：

CN201911142900.9

主分类号：

H01L31/18

IPC分类号：

H01L31/18 H01L31/02