通过灰度图像测量锡球高度的方法
授权
摘要
本发明公开了一种通过灰度图像测量锡球高度的方法,通过主动三维传感器获取PCB板表面的高度数据,再将获取的高度数据转化为灰度值,得到灰度图像;再利用阈值分割的方法从所述灰度图像中提取锡球的区域;然后确定锡球的质心坐标,并根据锡球的质心坐标反推锡球的高度数据。本发明通过将高度数据转换为灰度图像,降低了分析和处理数据的难度,直观地将高度数据以图像的形式表现出来,极大地提高了锡球高度数据测量的效率;且本发明的测高方法可以应用于表面不规则的物体,且不受噪声干扰的影响,检测精度更高。
基本信息
专利标题 :
通过灰度图像测量锡球高度的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111174704A
申请号 :
CN201911172034.8
公开(公告)日 :
2020-05-19
申请日 :
2019-11-26
授权号 :
CN111174704B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
吴巍路清彦王雪辉
申请人 :
武汉华工激光工程有限责任公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖开发区华中科技大学科技园激光产业园
代理机构 :
南京纵横知识产权代理有限公司
代理人 :
徐瑛
优先权 :
CN201911172034.8
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02 G06T7/11 G06T7/60
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-04-19 :
授权
2020-06-12 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/02
申请日 : 20191126
申请日 : 20191126
2020-05-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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