时变退化质量特征补偿的全寿命周期质量稳健性优化方法
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摘要

时变退化质量特征补偿的全寿命周期质量稳健性优化方法,属于电磁继电器质量优化设计领域。分析确定电磁继电器关键设计参数,进行线性度分析,基于K‑L展开方法将电磁继电器全寿命周期进行展开,分为若干个子寿命区间,使用克里金方法将子寿命区间的质量稳健性特征参数建模,并进行统一化表达,建立电磁继电器全寿命周期质量稳健性模型,质量稳健性特征要求水平选取合适的质量特征水平,计算时变退化参数作用下的电磁继电器质量稳健性特征偏移度,将质量偏移补偿到全寿命周期质量稳健性的需求,使用蒙特卡洛生成批量样本,计算输出特征,验证优化效果。为解决电磁继电器产品全寿命周期质量稳健性设计优化提出了一种新方法。

基本信息
专利标题 :
时变退化质量特征补偿的全寿命周期质量稳健性优化方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111046555A
申请号 :
CN201911267915.8
公开(公告)日 :
2020-04-21
申请日 :
2019-12-11
授权号 :
CN111046555B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
翟国富陈昊陈岑叶雪荣
申请人 :
哈尔滨工业大学
申请人地址 :
黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
代理机构 :
哈尔滨龙科专利代理有限公司
代理人 :
高媛
优先权 :
CN201911267915.8
主分类号 :
G06F30/20
IPC分类号 :
G06F30/20  G06F111/10  G06F119/04  G06F119/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-04-08 :
授权
2020-05-15 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/20
申请日 : 20191211
2020-04-21 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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