一种单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法
授权
摘要
本发明涉及一种单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法，包括：S1，通过统计学中位数的方法对已知颗粒的飞行时间谱进行初级校正；S2，根据初级飞行时间谱校正的结果，确定采样颗粒的种类和对应的特征峰的精确质荷比；S3，根据所述精确质荷比实现单个采样颗粒飞行时间谱的精确校正。本发明通过统计的方法已知颗粒的飞行时间谱进行初级校正，根据初级飞行时间谱校正的结果，确定采样颗粒的种类和对应的特征峰的精确质荷比；进一步可以根据精确质荷比实现单个采样颗粒飞行时间谱的精确校正，可提高质量精度，实现更精细化的质量分辨，提高颗粒成分识别准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110954449A
申请号 ：
CN201911388897.9
公开（公告）日 ：
2020-04-03
申请日 ：
2019-12-30
授权号 ：
CN110954449B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
李磊杜绪兵黄正旭高伟李梅周振
申请人 ：
暨南大学
申请人地址 ：
广东省广州市天河区黄埔大道西601号
代理机构 ：
广州市华学知识产权代理有限公司
代理人 ：
雷芬芬
优先权 ：
CN201911388897.9
主分类号 ：
G01N15/00
IPC分类号 ：
G01N15/00 G01N15/02 G01N27/62 G06F17/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2020-05-01 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 15/00
申请日 : 20191230
申请日 : 20191230
2020-04-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
