质谱仪校准
公开
摘要
本文公开了一种处理质谱数据的方法，该方法包括进行直接校准测量以确定质谱仪器在校准时间的校准移位，以及确定跨多个采集周期中持续存在的内在离子种类集合。然后将直接校准测量与校准移位的预期变化以及内在离子种类集合一起使用，以计算质谱仪器在并非校准时间的一个或多个感兴趣的时间点的校准移位。
基本信息
专利标题 ：
质谱仪校准
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114303228A
申请号 ：
CN202080060668.9
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2020-08-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
理查德·丹尼
申请人 ：
英国质谱公司
申请人地址 ：
英国威姆斯洛
代理机构 ：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
宋融冰
优先权 ：
CN202080060668.9
主分类号 ：
H01J49/00
IPC分类号 ：
H01J49/00 H01J49/26
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
