质谱仪和用于校准质谱仪的方法
公开
摘要
本发明涉及一种质谱仪(1)，包括：气体进口(2)，其被适配为把要被离子化的样本气体(4)供给到质谱仪(1)的离子化区(5)；校准单元(6)，其被适配为把要被离子化的校准气体(7)供给到离子化区(5)；以及离子化单元(8)，其被适配为对离子化区(5)中的样本气体(4)和/或校准气体(7)进行离子化。校准单元(6)包括至少一个蒸发源(9)以用于通过蒸发源材料(10)来生成校准气体(7)。本发明还涉及一种用于校准质谱仪(1)的方法。
基本信息
专利标题 ：
质谱仪和用于校准质谱仪的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114631168A
申请号 ：
CN201980101584.2
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2019-10-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
L·戈克霍弗Y·布拉赫陶泽尔
申请人 ：
莱宝有限责任公司
申请人地址 ：
德国科隆
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
刘书航
优先权 ：
CN201980101584.2
主分类号 ：
H01J49/00
IPC分类号 ：
H01J49/00
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J49/00
粒子分光仪或粒子分离管
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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