太赫兹波安检系统及方法
授权
摘要
公开了一种太赫兹波安检系统及方法，包括：信息采集装置，其包括太赫兹波成像机构和可见光成像机构，太赫兹波成像机构配置成生成被检测对象的太赫兹波图像，可见光成像机构配置成生成被检测对象的可见光图像，其中，可见光成像机构所生成的可见光图像与太赫兹波成像机构所生成的太赫兹波图像在太赫兹波成像机构的景深范围内相匹配；和数据处理装置，其与信息采集装置数据连通，并配置成获取太赫兹波成像机构提供的被检测对象的太赫兹波图像和可见光成像机构提供的可见光图像并基于太赫兹波图像和可见光图像判断被检测对象是否存在嫌疑物品，如果判断存在嫌疑物品，则数据处理装置基于可见光图像和太赫兹波图像判断嫌疑物品是否是违禁物品。
基本信息
专利标题 ：
太赫兹波安检系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113126176A
申请号 ：
CN201911402454.0
公开（公告）日 ：
2021-07-16
申请日 ：
2019-12-30
授权号 ：
CN113126176B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
赵自然陈志强李元景乔灵博郑志敏白晓静金颖康游燕柳兴
申请人 ：
清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区清华园1号
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
周永红
优先权 ：
CN201911402454.0
主分类号 ：
G01V8/10
IPC分类号 ：
G01V8/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V8/00
用光学装置勘探或探测
G01V8/10
探测，例如，用光垒
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2021-08-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01V 8/10
申请日 : 20191230
申请日 : 20191230
2021-07-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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