基于带隙基准电压的检测电路及带隙基准电压电路

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摘要

本发明揭示了一种基于带隙基准电压的检测电路及带隙基准电压电路，所述检测电路包括：第二MOS管，与带隙基准电压产生电路中电源电压V_DD和带隙基准电压V_BG之间的第一MOS管构成第一电流镜，用于复制第一MOS管中的电流；第一检测电阻，与所述第二MOS管串联设置；第三MOS管及第四MOS管，所述第三MOS管与第二MOS管并联设置，且第三MOS管和第四MOS管构成第二电流镜；第二检测电阻，与所述第四MOS管串联设置。本发明通过检测电路的设置，带隙基准电压电路中无需引入参考电压即可判断带隙基准电压是否输出正确，在带隙基准电压V_BG输出正确后输出高电平的逻辑电平信号BG_OK，能够适用于低电源电压的情况。

基本信息

专利标题：

基于带隙基准电压的检测电路及带隙基准电压电路

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110989760A

申请号：

CN201911413499.8

公开（公告）日：

2020-04-10

申请日：

2019-12-31

授权号：

CN110989760B

授权日：

2022-04-01

发明人：

李海波王永攀

申请人：

思瑞浦微电子科技（苏州）股份有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市苏州工业园区星湖街328号创意产业园2-B304-1

代理机构：

苏州三英知识产权代理有限公司

代理人：

周仁青

优先权：

CN201911413499.8

主分类号：

G05F1/575

IPC分类号：

G05F1/575