一种用于医疗器械纳米涂层的质量检测结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于医疗器械纳米涂层的质量检测结构：包括有底座，所述底座上设置有旋转支撑台，所述旋转支撑台上设置有卡槽；所述卡槽正上方设置有伸缩装置，所述伸缩装置的顶端支撑设置在支撑架上，且伸缩装置相对于卡槽左右滑动设置，所述伸缩装置底端设置有划痕结构，所述划痕结构水平滑动在卡槽内的被测物体表面。本实用新型使被测物体表面的划痕均匀，划格大小相同，并通过伸缩装置的伸长长度来控制划痕结构对被测物体的划痕深度，使被测物体上的各个划痕深度也一致，便于被测物体的后续检测。
基本信息
专利标题 ：
一种用于医疗器械纳米涂层的质量检测结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920396491.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-03-27
授权号 ：
CN209707343U
授权日 ：
2019-11-29
发明人 ：
高梨明
申请人 ：
无锡市中迈德涂层科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市锡山经济技术开发区芙蓉村
代理机构 ：
无锡松禾知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
段小丽
优先权 ：
CN201920396491.4
主分类号 ：
G01N19/04
IPC分类号 ：
G01N19/04 G01N3/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N19/00
用机械方法测试材料
G01N19/04
测量材料之间的附着力，例如密封带的，涂层的
法律状态
2019-11-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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