一种涂层薄膜质量检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种涂层薄膜质量检测装置，包括测试台；所述测试台上设置测试台滑轨、传感器导轨和相机架；所述测试台滑轨上滑动设置放置台支柱；所述放置台支柱上固定设置放置台移动导轨；所述放置台移动导轨上滑动设置薄膜放置台；所述传感器导轨上滑动设置传感器固定架；所述传感器固定架上固定设置传感器；所述相机架上固定设置相机。本实用新型具有适用性强，能使相机、传感器移动到涂层薄膜各部位上方，实现精确检测的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种涂层薄膜质量检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123102257.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-07
授权号 ：
CN216594824U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
邹逸
申请人 ：
无锡精谱测控技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新吴区菱湖大道200号E2-106
代理机构 ：
无锡佳信专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李秀琴
优先权 ：
CN202123102257.2
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01 G01B21/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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