超薄纳米晶带材综合检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种超薄纳米晶带材综合检测装置，包括放卷机构、检测平台、控制装置以及收卷机构，所述检测平台上设置有两个平面辊、厚度检测头以及光滑度检测头，所述放卷机构包括机架、放卷轴、放卷电机以及导向辊，控制装置设置在检测平台内部，所述机架上还设置有一个竖直的滑轨，在滑轨上设置有相配合的滑块，在滑块上设置有一个张紧辊，滑块可以上下滑动调节带材的张力。利用滑块的上下运动，可以调节张紧辊的位置，从而带材张紧，从而提高带材后续测量的准确性。
基本信息
专利标题 ：
超薄纳米晶带材综合检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920403529.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-03-27
授权号 ：
CN210064656U
授权日 ：
2020-02-14
发明人 ：
晋立丛邓毕力冯英杰罗顶飞
申请人 ：
安徽智磁新材料科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省阜阳市颍泉区阜阳循环经济园区周棚路82号
代理机构 ：
北京挺立专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
盛君梅
优先权 ：
CN201920403529.6
主分类号 ：
B65H23/26
IPC分类号 ：
B65H23/26 B65H26/00 B65H23/032
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B65
输送；包装；贮存；搬运薄的或细丝状材料
B65H
搬运薄的或细丝状材料，如薄板、条材、缆索
B65H23/00
定位、张紧、平整或引导条材
B65H23/04
纵向地
B65H23/26
用横向固定或可调节的杆或辊柱
法律状态
2020-02-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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