一种纳米晶带材综合检测装置
授权
摘要

本实用新型提供一种纳米晶带材综合检测装置,包括限位滑块、滚珠丝杆、右撑板、可调板、蝶形螺丝、定位压片、防滑胶皮以及右滑动座,操作台上端面左侧贴合有可调板,可调板下端面左右两侧对称焊接有限位滑块,可调板上端面右侧贴合有右撑板,蝶形螺丝下侧安装有定位压片,定位压片下端面粘贴有防滑胶皮,右撑板下端面中间位置焊接有右滑动座,可调板内部上侧安装有滚珠丝杆,该设计解决了原有检测装置在对纳米晶带材进行检测时,纳米晶带材容易松弛的问题,本实用新型结构合理,具备左右移动拽拉能力,便于使用,实用性强。

基本信息
专利标题 :
一种纳米晶带材综合检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022022564.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-16
授权号 :
CN212932452U
授权日 :
2021-04-09
发明人 :
杨水华邱菊
申请人 :
南通华禄新材料科技有限公司
申请人地址 :
江苏省南通市通州区石港镇石东村8幢
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202022022564.9
主分类号 :
G01N23/2251
IPC分类号 :
G01N23/2251  G01N23/2204  G01B15/02  G01B15/08  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束,例如扫描电子显微镜
法律状态
2021-04-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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