超薄纳米晶带材宽度检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种超薄纳米晶带材宽度检测装置，包括放卷机构、检测平台、收卷机构以及PLC控制器，所述检测平台上设置有若干导辊以及用于检测带材宽度的检测头，所述放卷机构包括放卷轴、放卷电机、导辊以及纠偏传感器，纠偏传感器连接PLC控制器，纠偏传感器用于检测带材的位置；PLC控制器控制放卷电机，且放卷轴在PLC控制器控制下，可沿轴往复运动。当纠偏传感器检测到带材发生偏移时，PLC控制器控制气缸作用，收卷轴进行轴向移动进行调整，可以保证检测头检测的带材宽度为准确值。
基本信息
专利标题 ：
超薄纳米晶带材宽度检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920403554.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-03-27
授权号 ：
CN209668441U
授权日 ：
2019-11-22
发明人 ：
晋立丛邓毕力冯英杰罗顶飞
申请人 ：
安徽智磁新材料科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省阜阳市颍泉区阜阳循环经济园区周棚路82号
代理机构 ：
北京挺立专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
盛君梅
优先权 ：
CN201920403554.4
主分类号 ：
B65H26/00
IPC分类号 ：
B65H26/00 B65H23/032
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B65
输送；包装；贮存；搬运薄的或细丝状材料
B65H
搬运薄的或细丝状材料，如薄板、条材、缆索
B65H26/00
警告或安全装置，如故障自动检测器、停止运动机构、用于条材送进机构的
法律状态
2019-11-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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