双波长多偏振激光成像装置

授权

摘要

本专利公开了一种双波长多偏振激光成像装置，输出为532nm和1064nm波长水平、垂直两个偏振方向基于DOE分光的100波束线阵激光光源，通过二维旋转台上下扫描可以得到4幅单一波长单一偏振态的目标物光子计数成像图。对比上述图像可以分析出目标物表面特性，识别出目标物表面是否为金属材料。将光子计数探测灵敏度高的优点与对目标进行偏振探测相结合，在提高整个系统探测效率的同时，实现对目标表面信息进行识别。具备多波长多偏振态的单光子量级检测技术，将多偏振态与少光子探测技术相结合，使得单光子探测器不仅能够统计目标回波的强度信息，还能通过得到目标物表面偏振信息进一步丰富单光子探测体制的应用范围，为今后激光雷达的发展提供新的思路。

基本信息

专利标题：

双波长多偏振激光成像装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920414456.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-03-29

授权号：

CN209928021U

授权日：

2020-01-10

发明人：

李铭石冬松黄庚华舒嵘

申请人：

中国科学院上海技术物理研究所

申请人地址：

上海市虹口区玉田路500号

代理机构：

上海沪慧律师事务所

代理人：

郭英

优先权：

CN201920414456.0

主分类号：

G01S17/89

IPC分类号：

G01S17/89 G01S7/481