本实用新型旨在提供一种阵列式发光元件质量检测系统，可实现对阵列式发光元件进行点亮并自动计算合格光源数量，发光点尺寸及坏点数量，同时将坏点位置能在测试界面上显示出来。本实用新型包括底板、工控机、旋转机构、载具、光学处理仪器及点亮装置，所述工控机藏于所述底板的底部，所述载具可对称固定放置在所述旋转机构的两端，所述光学处理仪器设置在所述旋转机构的上方，所述点亮装置配合设置在所述光学处理仪器的下方，所述旋转机构、所述载具、所述光学处理仪器及所述点亮装置均与所述工控机电信号连接。本实用新型应用于光学元件测试的技术领域。