回转体回转精度测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了回转体回转精度测试装置，属于测距技术领域。该测试装置包括：基准件、测距件、以及数据采集器；基准件相对于地面固定，且位置可调，以使其中轴与回转体的回转中轴重合；测距件与回转体相对固定，测距件的测试端正对基准件的中轴，以获取测试端与基准件的表面之间的距离；数据采集器与测距件连接，用于采集测距件测得的距离数据，并根据距离数据得到回转体的回转精度。通过基准件确定回转体的回转中轴的初始几何位置，测距件随回转体一同旋转并测取其测试端与基准件表面之间的距离，能对旋转的大型回转体回转精度进行测量。
基本信息
专利标题 ：
回转体回转精度测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920432850.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-03-29
授权号 ：
CN209991903U
授权日 ：
2020-01-24
发明人 ：
郭召杨跃明
申请人 ：
深圳市奥沃医学新技术发展有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区北环大道9116号富华科技大厦B座8楼
代理机构 ：
北京三高永信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
林鑫
优先权 ：
CN201920432850.7
主分类号 ：
G01B5/02
IPC分类号 ：
G01B5/02 G01B21/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-01-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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