高精度芯片测试装置
授权
摘要
本实用新型公开一种高精度芯片测试装置，包括基板、载板和第一PCB，所述载板上开有芯片槽，所述第一PCB上具有芯片探针，所述基板和载板之间安装有TEC；所述基板上安装有一第二PCB，此第二PCB上具有连接触点、测试触点、焊接触点和供电触点，所述第一PCB上具有连接探针，所述TEC的接电引脚焊接在焊接触点上；所述第一PCB和载板之间安装有一垫板，所述第一PCB和垫板通过一固定螺丝安装在基板上，所述基板上还设有限位杆，此限位杆上套有限位弹簧，所述垫板上开有限位孔，此限位孔一侧的垫板上还连通开有一条形导向孔，且此条形导向孔位于垫板靠近芯片的一侧。本实用新型无需拆离第一PCB板即能完成芯片的拆装工作，操作便捷，效率较高。
基本信息
专利标题 ：
高精度芯片测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920491295.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-12
授权号 ：
CN209894922U
授权日 ：
2020-01-03
发明人 ：
徐鹏嵩罗跃浩赵山郭孝明王化发黄建军
申请人 ：
苏州联讯仪器有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州市高新区湘江路1508号5幢
代理机构 ：
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 ：
王健
优先权 ：
CN201920491295.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-01-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN209894922U.PDF
PDF下载
