一种微型芯片高精度测试机构
授权
摘要

本实用新型公开了一种微型芯片高精度测试机构,包括测试箱和辅助缓冲机构,所述测试箱的内壁上固定连接有固定块,所述固定块的上端面开设有凹槽,所述凹槽中滑动连接有放置板,所述放置板的下端面对称固定连接有两个连接块,每个所述连接块的下端均固定连接有第一斜块。本实用新型,通过竖杆、滑板和滑块的配合设置,可以拉伸第一弹簧,第一弹簧对放置板具有缓冲的作用;通过第一斜块、第二斜块和第二弹簧的配合设置,可以对放置板起到缓冲的作用,第二斜块通过推杆、推板和第三弹簧的配合设置,可以进一步对放置板起到缓冲的作用,防止探针与芯片本体发生刚性挤压导致芯片本体损坏,进而降低了芯片本体的报废率。

基本信息
专利标题 :
一种微型芯片高精度测试机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122744632.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-10
授权号 :
CN216351079U
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
孔祺荣
申请人 :
苏州市惠海精密科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中区东山镇石鹤山路1号2幢
代理机构 :
苏州欣达共创专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
范玉敏
优先权 :
CN202122744632.7
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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