本实用新型公开了一种高精度芯片功能自动化测试设备，包括：设备底板，所述设备底板的下方四角固定设有橡胶块，所述设备底板的上方固定设有设备主控箱；芯片检测底座，其固定安装在所述设备主控箱的前端中部，所述芯片检测底座的内部开设有引脚插孔，所述引脚插孔沿芯片检测底座的内部等距均匀分布；连接导体，其固定安装在所述引脚插孔的内壁。本实用新型通过铜板材质的连接导体可以使装置适用于不同的芯片主体，以此不同类型的高精度芯片主体的芯片引脚可以与连接导体紧紧的连接在一起；通过密封防护板可以对数据连接口进行保护，防止在不使用数据连接口时，发生灰尘堆积在数据连接口内部的现象，可以很好的对数据连接口内部导体进行保护。