一种微型芯片高精度测试结构
授权
摘要
本实用新型旨在提供一种结构简单紧凑、设计合理、定位精度高且能够适用于PAD点尺寸较小的产品的微型芯片高精度测试结构。本实用新型包括XYZ自动滑台（1），所述XYZ自动滑台（1）上设置有针卡安装组件（2），所述针卡安装组件（2）上设置有针卡（3），所述XYZ自动滑台（1）的一侧设置有工业相机（4），所述工业相机（4）位于所述针卡（3）的上方，所述针卡（3）包括设置在所述针卡安装组件（2）上的PCB板（31），所述PCB板（31）上设有若干根探针（32）。本实用新型可应用于测试结构的技术领域。
基本信息
专利标题 ：
一种微型芯片高精度测试结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020572555.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-17
授权号 ：
CN212540447U
授权日 ：
2021-02-12
发明人 ：
张本伍郗旭斌
申请人 ：
珠海市运泰利自动化设备有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市斗门区新青科技工业园内B型厂房
代理机构 ：
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 ：
王贤义
优先权 ：
CN202020572555.4
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2021-02-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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