一种微型芯片高精度测试结构
授权
摘要
本实用新型旨在提供一种结构简单紧凑、设计合理、定位精度高且能够适用于PAD点尺寸较小的产品的微型芯片高精度测试结构。本实用新型包括XYZ自动滑台(1),所述XYZ自动滑台(1)上设置有针卡安装组件(2),所述针卡安装组件(2)上设置有针卡(3),所述XYZ自动滑台(1)的一侧设置有工业相机(4),所述工业相机(4)位于所述针卡(3)的上方,所述针卡(3)包括设置在所述针卡安装组件(2)上的PCB板(31),所述PCB板(31)上设有若干根探针(32)。本实用新型可应用于测试结构的技术领域。
基本信息
专利标题 :
一种微型芯片高精度测试结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020572555.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-17
授权号 :
CN212540447U
授权日 :
2021-02-12
发明人 :
张本伍郗旭斌
申请人 :
珠海市运泰利自动化设备有限公司
申请人地址 :
广东省珠海市斗门区新青科技工业园内B型厂房
代理机构 :
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 :
王贤义
优先权 :
CN202020572555.4
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-02-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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