一种基体表面凹凸程度的原位无损测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种基体表面凹凸程度的原位无损测量装置，包括标准校准板和下侧带有滑道的矩形板，设置于滑道左右两端的滑动模块及基准定位针、设置于滑道中间的滑动模块及上下调节的测量针、设置于基准定位针上部的双向激光发射器、设置于测量针上部的三向激光发射器、设置于矩形板上的横向标尺及纵向标尺；通过测量装置对基体表面进行测量，并计算、作图进行表征；本实用新型的装置便携、易操作，可实现原位无损测量；方法简单、易操作，可快速表征设备材料基体表面的凹凸程度。
基本信息
专利标题 ：
一种基体表面凹凸程度的原位无损测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920450276.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-02
授权号 ：
CN209512761U
授权日 ：
2019-10-18
发明人 ：
宋飞柯于进杨俊刘炎伟曹松彦李鹏乔越
申请人 ：
西安热工研究院有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市兴庆路136号
代理机构 ：
西安智大知识产权代理事务所
代理人 ：
何会侠
优先权 ：
CN201920450276.8
主分类号 ：
G01B5/28
IPC分类号 ：
G01B5/28 G01B11/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/255
••用于检测轮子的准直
G01B5/28
用于计量表面的粗糙度或不规则性
法律状态
2019-10-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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