测定聚合物固化程度的无损检验方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种测定聚合物固化程度的无损检验方法，例如：通过对荧光团的荧光测量，测量出加进聚合物系统中的荧光团的自由空间旋转程度，以此为基础测定聚合物膜的固化程度。这个结果能够用于在线控制聚合物的聚合程度。
基本信息
专利标题 ：
测定聚合物固化程度的无损检验方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86103711A
申请号 ：
CN86103711.1
公开（公告）日 ：
1987-05-13
申请日 ：
1986-06-02
授权号 ：
CN1010431B
授权日 ：
1990-11-14
发明人 ：
约瑟·阿尔伯托·奥斯苏萨尼·弗朗希斯·斯卡拉塔
申请人 ：
美国电话电报公司
申请人地址 ：
美国纽约州
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
王以平
优先权 ：
CN86103711.1
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
1996-07-17 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-07-24 ：
授权
1990-11-14 ：
审定
1988-03-16 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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