一种基于差分放大技术的精密电阻测试电路
授权
摘要
本实用新型提供了一种基于差分放大技术的精密电阻测试电路，包括微控制单元、模数转换模块、差分放大模块、恒流源及待测电阻；所述待测电阻的两端分别通过第一电流引线极及第二电流引线极连接所述恒流源；所述待测电阻的两端还分别通过第一信号线及第二信号线连接所述差分放大模块的第一输入端及第二输入端；所述差分放大模块的输出端连接所述模数转换模块，所述模数转换模块连接所述微控制单元。应用本技术方案可实现待测电阻阻值的精准测量。
基本信息
专利标题 ：
一种基于差分放大技术的精密电阻测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920469137.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-08
授权号 ：
CN210015168U
授权日 ：
2020-02-04
发明人 ：
张俊清林志鹏康鸿明
申请人 ：
厦门彼格科技有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市集美区集美大道1300号厦门产业技术研究院（创新大厦）11层
代理机构 ：
厦门市首创君合专利事务所有限公司
代理人 ：
张松亭
优先权 ：
CN201920469137.X
主分类号 ：
G01R27/14
IPC分类号 ：
G01R27/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/14
通过测量从一基准源所得到的电流或电压来测量电阻值
法律状态
2020-02-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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