一种激光粒度仪样品遮光度控制装置及进样系统
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摘要
本实用新型公开了一种激光粒度仪样品遮光度控制装置及进样系统，属于颗粒粒度测量领域。本实用新型的一种激光粒度仪样品遮光度控制装置，包括样品杯以及设置有样品杯上端的溢流器，溢流器与样品杯形成的腔体用于盛放待测样品；溢流器的侧面开设有溢流口，溢流口的高度小于溢流器上沿的高度。本实用新型的样品遮光度控制装置操作简单，能够对待测样品的遮光度进行连续性调整或微调，确保其落入需要的较窄范围内。本实用新型的一种激光粒度仪进样系统，方便待测样品的进样，同时能够控制样品的遮光度，提高测量结果的准确性和稳定性。
基本信息
专利标题 ：
一种激光粒度仪样品遮光度控制装置及进样系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920481705.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-10
授权号 ：
CN209821018U
授权日 ：
2019-12-20
发明人 ：
陈乐
申请人 ：
安徽金星钛白（集团）有限公司
申请人地址 ：
安徽省马鞍山市慈湖经济开发区新化路1号
代理机构 ：
安徽知问律师事务所
代理人 ：
平静
优先权 ：
CN201920481705.8
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02 G01N35/10
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2019-12-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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