一种基于阵列波导光栅的光纤光栅多点氢气测量仪
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种基于阵列波导光栅的光纤光栅多点氢气测量仪,包括宽带光源、3dB耦合器、传输光纤、镀有Pd/WO3膜的光纤光栅传感头、气室、阵列波导光栅、光电探测器阵列、数据采集卡以及PC机;所述镀有Pd/WO3膜的光纤光栅传感头由光纤布拉格光栅、Pd/WO3膜构成;当氢气作用于Pd/WO3膜时,反射光的中心波长发生漂移,阵列波导光栅输出光的强度随之发生变化,进而影响光电探测器输出电信号的强度。通过测量输出电信号的强度变化,可以实现氢气浓度的高灵敏度测量。本实用新型氢气测量仪具有不受光源波动影响,响应速度快,灵敏度高,可多点测量,成本低,安全可靠等优点。

基本信息
专利标题 :
一种基于阵列波导光栅的光纤光栅多点氢气测量仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920481791.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-11
授权号 :
CN209727750U
授权日 :
2019-12-03
发明人 :
闫正赵春柳徐贲康娟沈常宇王东宁
申请人 :
中国计量大学
申请人地址 :
浙江省杭州市江干区下沙高教园区学源街258号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201920481791.2
主分类号 :
G01N21/17
IPC分类号 :
G01N21/17  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
法律状态
2021-03-19 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 21/17
申请日 : 20190411
授权公告日 : 20191203
终止日期 : 20200411
2019-12-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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