单晶光纤损耗测量仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种单晶光纤损耗测量仪，其特征是设有程控锁相放大器7和微机控制系统9，可测量单晶光纤的损耗系数、透射谱、散射谱以及散射位置谱，被测光纤芯径为100～1000μm，长度为2～40cm，波长从可见光至近红外，系统控制和信息处理由计算机执行，输出电压相对变化的动态范围为1.0～10-3，能精确快速获得所需的连续谱图。
基本信息
专利标题 ：
单晶光纤损耗测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1065932A
申请号 ：
CN92108414.5
公开（公告）日 ：
1992-11-04
申请日 ：
1992-05-10
授权号 ：
CN1029757C
授权日 ：
1995-09-13
发明人 ：
董绵豫张松斌童利民
申请人 ：
浙江大学
申请人地址 ：
310027浙江省杭州市玉泉
代理机构 ：
浙江大学专利代理事务所
代理人 ：
连寿金
优先权 ：
CN92108414.5
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
1997-06-25 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1995-09-13 ：
授权
1992-11-04 ：
公开
1992-10-07 ：
实质审查请求已生效的专利申请
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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