一种光纤宏弯损耗测试装置
授权
摘要
一种光纤宏弯损耗测试装置，包括绕线柱，在绕线柱的一侧设有光源发生装置及光检测装置，光纤与光源发生装置连接，然后绕设于绕线柱上，再与光检测装置连接；所述绕线柱的直径由下至上逐渐变窄。本实用新型提供一种光纤宏弯损耗测试装置，光纤绕设完成后可直接将绕好的线向上移动，移动至直径较小的上一级绕线柱上然后将光纤拉紧，便可进行另一弯曲直径的光纤宏弯损耗测试。
基本信息
专利标题 ：
一种光纤宏弯损耗测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922066089.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-26
授权号 ：
CN210719639U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
杨欣覃家乐
申请人 ：
宜昌市源度科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省宜昌市长阳土家族自治县龙舟坪镇星城二路11号
代理机构 ：
宜昌市三峡专利事务所
代理人 ：
成钢
优先权 ：
CN201922066089.2
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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