一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置

授权

摘要

本实用新型一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置，包括光纤微弯模型和光功率计等；测试时，光纤微弯模型设置在位移平台上，待测单模光纤穿过光纤微弯模型，位移平台控制器用于调节位移平台的位移大小，使得待测单模光纤夹在位移平台的固定端和活动端之间；待测单模光纤的两端通过光纤跳线分别与光源和光功率计相连接，利用位移平台的移动，得到不同的光功率，并存储在电脑上。本实用新型通过3D打印技术对多种微弯模型进行精确制作，解决了现有的微弯测试的方法难以实现精确度、高效性、重复性问题；通过电脑控制位移平台与微弯模型的配合移动，对单模光纤进行不同精确度的挤压，达到不同微弯的效果，解决了现有技术缺少理论依据的技术问题。

基本信息

专利标题：

一种用于OPLC缆中光纤微弯损耗测试的装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920538875.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-04-19

授权号：

CN209745526U

授权日：

2019-12-06

发明人：

陈玉姚凯孙冠姝阿森·阿什法克葛维春罗桓桓周桂平于晶郭毅伏丽娜

申请人：

西安交通大学;国网辽宁省电力有限公司;上海电缆研究所有限公司

申请人地址：

陕西省西安市碑林区咸宁西路28号

代理机构：

西安通大专利代理有限责任公司

代理人：

徐文权

优先权：

CN201920538875.5

主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01M11/02