用于多光谱成像系统光学通道平行性的校准装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于多光谱成像系统光学通道平行性的校准装置及方法，装置包括离轴反射镜、多光谱光源和空间光桥，被测产品上间隔设置有多只光学通道；多光谱光源出射的光经过离轴反射镜整形为准直光束，并向被测产品方向出射；所述的空间光桥包括层叠设置的第一斜方棱镜和第二斜方棱镜。本实用新型将空间光桥在环形导轨上的往复移动和平移，在不改变入射和出射光束方向的前提下，方便地将小口径离轴反射镜出射的准直光束经过平移后入射至大跨度、大间隔的光学通道中，实现了多光谱成像系统光学通道平行性的校准，具有结构紧凑、成本低，操作简单可靠、便于外场等应用特点。
基本信息
专利标题 ：
用于多光谱成像系统光学通道平行性的校准装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920582636.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-26
授权号 ：
CN209927289U
授权日 ：
2020-01-10
发明人 ：
吴晨成张瑞
申请人 ：
陕西雷神智能装备有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市国家民用航天产业基地神舟四路航创国际广场2栋403室
代理机构 ：
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
汤东凤
优先权 ：
CN201920582636.X
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28 G01J3/02 G01B11/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2020-01-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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