多尺度二维测量系统
授权
摘要
本实用新型涉及二维测量技术领域，具体的说是一种多尺度二维测量系统，包括底板，所述底板的顶部安装有Y方向平台，所述Y方向平台的第一移动块上固定有垂直升降支撑架，所述垂直升降支撑架上安装有垂直升降平台，所述垂直升降平台的第二移动块上安装有X方向平台，所述X方向平台的第三移动块上安装有镜头支架，所述底板1上还通过灯架固定有LED灯。进行不同尺度下的变形测量，三个单轴平移台通过结构组建为三个方向平台，通过控制平移台移动，从而达到不同倍数镜头的切换，在装置的侧端安装了一个LED灯，提供测量所需的光照强度，不需要频繁手动切换镜头以手动调整至观测位置，操作简单。
基本信息
专利标题 ：
多尺度二维测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920587474.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-26
授权号 ：
CN210089628U
授权日 ：
2020-02-18
发明人 ：
李鹰
申请人 ：
苏州利力升光电科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市彩香路6号
代理机构 ：
昆明合众智信知识产权事务所
代理人 ：
刘静怡
优先权 ：
CN201920587474.9
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
2020-02-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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