一种激光模拟单粒子辐照损伤评估的测试系统

授权

摘要

本实用新型公开了一种激光模拟单粒子辐照损伤评估的测试系统，包括电源单元和测试板卡，其中电源单元用于向待测芯片提供电源；测试板卡包括比较器、计数器、提示单元、以及用于分别测试所述待测芯片的单粒子激光测试区和参照测试区，单粒子激光测试区和参照测试区分别测试加载激励信号的待测芯片并输出第一测试信号和第二测试信号；经比较器比对并输出比对结果至计数器；计数器用于接收并传输比对结果至提示单元；提示单元用于根据所述比对结果呈现提示信息。本实用新型提供的测试系统通过激光模拟单粒子辐照损伤测试待测芯片，再通过同时采用两组测试进行比对从而更加准确地获取测试结果，并通过数字逻辑判断避免因人工判断引起的误判和漏判。

基本信息

专利标题：

一种激光模拟单粒子辐照损伤评估的测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920603118.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-04-28

授权号：

CN210109257U

授权日：

2020-02-21

发明人：

关凯博张薇朱恒宇

申请人：

北京锐达芯集成电路设计有限责任公司

申请人地址：

北京市大兴区经济技术开发区科创十四街99号33幢D栋二层2192号

代理机构：

北京正理专利代理有限公司

代理人：

张雪梅

优先权：

CN201920603118.1

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28