一种用于辐照损伤评估的加速试验装置
授权
摘要
本实用新型公开一种用于辐照损伤评估的加速试验装置，包括：侧壁上设置有辐射口的壳体，辐射口设置有玻璃基板，壳体内设置有：试验板，用于承载试验器件，以使辐射射线能够通过辐射口入射至试验器件表面；温度传感器；加热装置；以及温控电路，包括数字比较器以及控制子电路；数字比较器具有第一、第二输入端和输出端，第一输入端接收基准电压，第二输入端接收温度电压，输出端与控制子电路连接；其中，当基准电压大于温度电压时，控制子电路响应于数字比较器的输出端所输出的控制电压来控制加热装置进行加热，使试验器件处于预设试验温度下。采用本实用新型提供的用于辐照损伤评估的加速试验装置，能够开展高温辐照试验，提高辐射试验效率。
基本信息
专利标题 ：
一种用于辐照损伤评估的加速试验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020375882.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-23
授权号 ：
CN212159958U
授权日 ：
2020-12-15
发明人 ：
张薇刘刚
申请人 ：
北京锐达芯集成电路设计有限责任公司
申请人地址 ：
北京市大兴区经济技术开发区科创十四街99号33幢D栋二层2192号
代理机构 ：
北京正理专利代理有限公司
代理人 ：
张雪梅
优先权 ：
CN202020375882.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-12-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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