一种测量场均匀域性能的探头支架面板
授权
摘要
本实用新型公开了一种测量场均匀域性能的探头支架面板，针对现有的面板灵活度较差的问题，现提出如下方案，其包括支撑座，所述支撑座顶部的两端焊接有竖向设置的支撑板，两个所述支撑板的内壁开设有转动槽，所述转动槽的内部转动连接有横向设置的连接块，所述连接块的内壁开设有安装槽，所述安装槽的内部设有竖向设置的联动板，所述联动板为矩形结构，所述联动板远离支撑板的一侧焊接有横向设置的定位块。本实用新型结构合理，可对面板的角度进行调节，可对面板的调节部件进行拆卸，灵活度高，使用方便，实用性强，适合推广。
基本信息
专利标题 ：
一种测量场均匀域性能的探头支架面板
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920610981.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-30
授权号 ：
CN210037871U
授权日 ：
2020-02-07
发明人 ：
潘政
申请人 ：
苏州华碧微科检测技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区港田路99号
代理机构 ：
六安市新图匠心专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
胡艳
优先权 ：
CN201920610981.X
主分类号 ：
G01R1/02
IPC分类号 ：
G01R1/02 G01D11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2020-02-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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