一种成像光电子束扫描型时域选通光电探测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种成像光电子束扫描型时域选通光电探测系统,被测脉冲辐射入射到扫描变像管阴极产生光电子,被栅极加速后形成的电子束被电子光学系统聚焦成像,通过扫描偏转板,加载其上的两台阶脉冲电压在偏转板间产生电场使光电子束发生偏转,不同时域的光电子被分别成像于不同的空间区域,光电子激发置于成像区域的高速闪烁体发射荧光信号,然后分别进入两光电探测器,产生脉冲电流,被示波器记录,可对两时域的脉冲辐射分别进行测量;与现有技术相比,本实用新型采用成像光电子束扫描方式实现探测时域选通,提高了时域选通速度。本实用新型可对两时域信号强度差别悬殊的脉冲辐射同时进行定量测量,在脉冲辐射探测领域具有广泛的应用前景。
基本信息
专利标题 :
一种成像光电子束扫描型时域选通光电探测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920636453.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-06
授权号 :
CN209842075U
授权日 :
2019-12-24
发明人 :
刘慎业杨志文李晋谢旭飞车兴森胡昕
申请人 :
中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请人地址 :
四川省绵阳市游仙区绵山路64号
代理机构 :
绵阳山之南专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
沈强
优先权 :
CN201920636453.1
主分类号 :
G01T1/29
IPC分类号 :
G01T1/29
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/29
对辐射束流的测量,例如,测量射束位置或截面;辐射的空间分布的测量
法律状态
2019-12-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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