用于电子加工检验用的检验设备

专利权的终止

摘要

本实用新型提供用于电子加工检验用的检验设备，包括底座、下滑轨和斜连杆；所述底座的顶部滑动连接有两组所述下检测块；所述底座左右两侧顶部均铰链接有两组所述连杆；所述摆动块中部滑动连接有两组所述上检测块；所述底座左后方铰链接有一组所述手柄；所述手柄的中部通过一组所述斜连杆与最左后方一组所述连杆铰链接；所述连杆和所述上检测块均与检测仪器相连接。该装置可以同时将电子元器件的两个针脚同时压紧，减少操作，避免逐个针脚固定的情况，提供生产效率，同时在使用中可以方便的调节两组上下检测块的距离，可以适合不同长度的针脚元器件进行测量，适用性更强，调节简单方便，提高生产效率。

基本信息

专利标题：

用于电子加工检验用的检验设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920687423.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-05-08

授权号：

CN210119532U

授权日：

2020-02-28

发明人：

褚银菲姜志忠邵娴

申请人：

宜兴高等职业技术学校

申请人地址：

江苏省无锡市宜兴市宜城街道荆邑南路97号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201920687423.3

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00 G01R1/04