一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置

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摘要

本实用新型公开了一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置，包括尺身、定位卡脚、V型缺口定位块以及关于尺身中心线成对对称设置的制动螺钉、游标、尺框、主尺、活动卡脚、微动螺母和微动装置，所述定位卡脚设于尺身中心线位置正上方，所述V型缺口定位块设于尺身中心线位置正下方，所述定位卡脚和V型缺口定位块中心线与尺身中心线重合，两套主尺和游标的刻度线关于尺身中心线对称设置，且零刻度线靠近尺身中心线一侧，所述对中测量装置形成关于尺身中心线为轴的对称结构。本实用新型具有操作简便，能够精准定位缺口的对称面为测量距离的起点即零点，可同时测得缺口对称面与试样端面的距离，减少了常规测量过程中的无关变量，省时、省力。

基本信息

专利标题：

一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920689974.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-05-15

授权号：

CN210221750U

授权日：

2020-03-31

发明人：

张宏阳王景丽蔡静王健张重远

申请人：

中国科学院金属研究所

申请人地址：

辽宁省沈阳市沈河区文化路72号

代理机构：

沈阳晨创科技专利代理有限责任公司

代理人：

张晨

优先权：

CN201920689974.3

主分类号：

G01N3/62

IPC分类号：

G01N3/62