一种高分子材料冲击试样缺口测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种高分子材料冲击试样缺口测量装置，包括底座、量块单元及测量单元量块单元安装于所述底座上，所述测量单元安装于所述量块单元的上端，所述量块单元的底部与底座连接，所述测量单元通过立柱与所述底座连接。本实用新型能够准确、快速、高效的检测出冲击试验试样缺口的形状和厚度bN是否满足试验的要求，避免了人工在没有辅助治具的情况下测试结果的不准确和测试时间的浪费。
基本信息
专利标题 ：
一种高分子材料冲击试样缺口测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020680540.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-28
授权号 ：
CN211824214U
授权日 ：
2020-10-30
发明人 ：
梁丽霞王晓峰姚峥陈林
申请人 ：
江苏天鼎检测科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区通园路58号E幢
代理机构 ：
北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
郭堃
优先权 ：
CN202020680540.X
主分类号 ：
G01B5/20
IPC分类号 ：
G01B5/20 G01B5/06
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/20
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2020-10-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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