一种贵金属无损检测定位装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种贵金属无损检测定位装置，包括定位盒，定位盒的内部具有一个顶部开口的密封腔，密封腔的顶部通过一顶盖密封，所述顶盖的顶部固定一凸台，凸台的下端面固定安装一支架，支架中间设置一转动腔，转动腔内壁各开设一第一转轴孔，转动腔内安装一定位臂，定位臂正对第一转轴孔的位置均设置一第一转轴，第一转轴转动安装于第一转轴孔内；所述定位臂的另一端铰接一定位盒。本实用新型采用一个密封的环境来定位贵金属，使其在一个密闭的环境下进行检测，并能够定位在透明面板上，利用软接触实现更好的定位，可实现对贵金属的快速翻面，实现对多个面的快速定位检测。
基本信息
专利标题 ：
一种贵金属无损检测定位装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920693235.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-15
授权号 ：
CN210037789U
授权日 ：
2020-02-07
发明人 ：
金绪广
申请人 ：
深圳市宁深检验检测技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市罗湖区翠竹街道水贝一路金展珠宝广场B座19楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920693235.1
主分类号 ：
G01N33/20
IPC分类号 ：
G01N33/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/20
•金属
法律状态
2020-02-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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