贵金属无损检测系统

专利权的终止

摘要

一种贵金属无损检测系统，由X荧光光谱仪连接计算机；密度测量仪连接在电子天平上再连接计算机。其密度测量仪是在电子天平座表面上有电子天平盘和静支架，静支架连接静托盘，静托盘上透明容器，透明容器内有吊具，吊具由吊丝连接在上方的干重称重盘上，干重称重盘置放在动支架顶部，动支架下端连接动托盘，动托盘在电子天平盘上。此系统其特点：X荧光光谱仪除测量样品表面层的成分和各元素的含量外，要由此数据计算出含有该成分的均匀合金的密度。密度测试仪装置样品的真实密度与计算出的均匀合金密度相比较，判断样品是真实合金还是仅外层包裹有合金的方法。彻底解决对贵金属层的样品的错误检测。

基本信息

专利标题：

贵金属无损检测系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820074914.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-06-02

授权号：

CN201203603Y

授权日：

2009-03-04

发明人：

张磊

申请人：

天津市博智伟业科技有限公司

申请人地址：

300384天津市华苑产业区鑫茂财智领地4－B－1001

代理机构：

天津盛理知识产权代理有限公司

代理人：

王融生

优先权：

CN200820074914.2

主分类号：

G01N33/20

IPC分类号：

G01N33/20 G01N23/223 G01N9/08