含贵金属的检测装置及检测系统及其方法
专利权的终止
摘要
本发明是揭露一种含贵金属的检测装置及检测系统及其方法。此含贵金属的检测装置包含一平面波导板、一贵金属奈米粒子层及一上盖。其中，平面波导板具有一上平面，贵金属奈米粒子层均匀的分布于平面波导板的上平面上，上盖具有一凹槽并且盖合于平面波导板的上平面，使凹槽与上平面形成一空间。爰此，以含贵金属奈米粒子的检测装置引入一入射光，以检测容置于上述空间的待测物质。
基本信息
专利标题 ：
含贵金属的检测装置及检测系统及其方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101008608A
申请号 ：
CN200610001734.7
公开（公告）日 ：
2007-08-01
申请日 ：
2006-01-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
周礼君许伟庭谢文馨陈柏良邱冠智
申请人 ：
周礼君
申请人地址 ：
中国台湾嘉义市东区圳头里22邻林森东路470巷111号
代理机构 ：
北京恒信悦达知识产权代理有限公司
代理人 ：
徐雪琦
优先权 ：
CN200610001734.7
主分类号 ：
G01N21/17
IPC分类号 ：
G01N21/17 G01N21/55 G01N21/41
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
法律状态
2022-01-07 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 21/17
申请日 : 20060123
授权公告日 : 20101222
终止日期 : 20210123
申请日 : 20060123
授权公告日 : 20101222
终止日期 : 20210123
2010-12-22 ：
授权
2007-09-26 ：
实质审查的生效
2007-08-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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