一种贵金属无损检测装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种贵金属无损检测装置,包括一X荧光光谱仪和一计算机,X荧光光谱仪与计算机连接,所述X荧光光谱仪包括机壳,机壳的侧面均开设有一凹部,凹部的底部中心开设有一轴承安装孔,凹部的侧壁上设有多个散热孔,轴承安装孔内安装一轴承,轴承的中心孔内插入一轴杆,轴杆连接一防护块;防护块的侧面设有多根支撑杆和多块吸热块,任意一吸热块位于两根支撑杆之间;支撑杆面向凹部侧壁的一端固定一防尘塞;支撑杆远离轴承的一端固定一防护罩,防护罩内开设有防护腔。本实用新型的结构简单,通过X荧光光谱仪对贵金属进行检测,设备的散热性和防撞性更好,不易发生损坏,使用寿命更长。

基本信息
专利标题 :
一种贵金属无损检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920771802.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-27
授权号 :
CN210108998U
授权日 :
2020-02-21
发明人 :
曹小勇
申请人 :
深圳市宁深检验检测技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市罗湖区翠竹街道水贝一路金展珠宝广场B座19楼
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201920771802.0
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-05-06 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 23/223
申请日 : 20190527
授权公告日 : 20200221
终止日期 : 20210527
2020-02-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332