单层活细胞的太赫兹ATR光谱快速测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种单层活细胞的太赫兹ATR光谱快速测量装置，太赫兹光电导辐射源经第一太赫兹离轴抛面镜、第二太赫兹离轴抛面镜、全反射棱镜后聚焦入射到硅皿上表面，并与硅皿中的单层活细胞和细胞培养液发生相互作用；携带样品信息的太赫兹波经第三太赫兹离轴抛面镜、第四太赫兹离轴抛面镜、太赫兹光电导探测器的探测实现待测样品的光谱测量；探测信号传输到计算机分析系统中，经过现傅里叶光谱变换原理，得到活细胞样品在太赫兹波段的介电响应信息。本实用新型在多个硅皿结构中培养细胞，并将硅皿结构置于全反射棱镜上表面，该产品操作简单，真正实现单层细胞太赫兹光谱的快速检测；同时背景和样品信号的测量时间间隔小，实验结果的误差范围明显缩小。
基本信息
专利标题 ：
单层活细胞的太赫兹ATR光谱快速测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920699409.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-16
授权号 ：
CN210180919U
授权日 ：
2020-03-24
发明人 ：
王与烨姜智南徐德刚刘宏翔姚建铨
申请人 ：
天津大学
申请人地址 ：
天津市南开区卫津路92号
代理机构 ：
天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人 ：
李林娟
优先权 ：
CN201920699409.5
主分类号 ：
G01N21/552
IPC分类号 ：
G01N21/552
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/55
镜面反射率
G01N21/552
衰减全反射
法律状态
2020-03-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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