一种大口径全谱段高光谱载荷高稳定性探测系统
授权
摘要
本实用新型提供一种大口径全谱段高光谱载荷高稳定性探测系统，解决现有光学系统结构形式难以满足严苛的轻量化、高稳定性、高精度的要求，以及不能实现全谱段光学器件支撑的问题。该探测系统包括主支撑结构、前置望远镜系统、三镜组镜系统及全谱段高光谱仪系统，主支撑结构包括采用SiC材料制成的基板，前置望远镜系统设置在基板的正面，三镜组系统设置在基板的反面，用于反射次前置望远镜系统输出的光束，并将光束折转为两路，分别进入全谱段高光谱仪系统，全谱段高光谱仪系统用于获取地面目标的全色、可见近红外谱段、短波红外谱段、中波红外谱段、长波红外谱段的空间信息图像和全色/光谱影像图，能够实现全波段共6个光学载荷的同支撑设计。
基本信息
专利标题 ：
一种大口径全谱段高光谱载荷高稳定性探测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920709087.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-17
授权号 ：
CN210119291U
授权日 ：
2020-02-28
发明人 ：
张兆会王锋孙丽军李立波王爽王飞橙武登山柯善良贾昕胤李思远
申请人 ：
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
董娜
优先权 ：
CN201920709087.8
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28 G01J3/02 G02B7/182 G02B17/06 G02B27/10 G02B27/42
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2020-02-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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