光捕获颗粒的控制装置
授权
摘要

一种光捕获颗粒的控制装置,应用于光电技术领域,包括:光捕获单元、数字反馈控制单元和上位机,光捕获单元用于测量待捕获微纳颗粒的三维位置信号,并将三维位置信号传输给数字反馈控制单元和上位机,上位机用于根据三维位置信号,生成反馈控制参数,并发送反馈控制参数给所述数字反馈控制单元,数字反馈控制单元用于将根据三维位置信号、反馈控制参数、目标运动状态,生成反馈控制信号给所述光捕获单元,以对所述光捕获单元进行反馈控制,可实现对光捕获颗粒振动冷却、振动幅度、振动频率等运动状态的控制。

基本信息
专利标题 :
光捕获颗粒的控制装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920745737.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-22
授权号 :
CN210199398U
授权日 :
2020-03-27
发明人 :
郑瑜孙方稳
申请人 :
中国科学技术大学
申请人地址 :
安徽省合肥市包河区金寨路96号
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
周天宇
优先权 :
CN201920745737.4
主分类号 :
G02B21/32
IPC分类号 :
G02B21/32  G21K1/06  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B21/00
显微镜
G02B21/32
结构上与显微镜组合的微型控制器
法律状态
2020-03-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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