形位公差测量装置
授权
摘要
本公开涉及一种形位公差测量装置。该形位公差测量装置包括底座(1)、滑块(4)、测量支架(3)和测量杆(6)，滑块(4)可滑动地设置在底座(1)上并能相对底座(1)定位，测量支架(3)呈L型并与滑块(4)连接，测量杆(6)可滑动地穿设于测量支架(3)上，测量杆(6)具有用于与零件的待检测面(13)接触的端面。该形位公差测量装置解决了相关技术中的测量装置结构复杂、测量操作不便以及对于特殊公差测量困难的问题。
基本信息
专利标题 ：
形位公差测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920757010.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-23
授权号 ：
CN210070781U
授权日 ：
2020-02-14
发明人 ：
郭希旺于子秋
申请人 ：
北京汽车股份有限公司
申请人地址 ：
北京市顺义区双河大街99号院1幢五层101内A5-061
代理机构 ：
北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
胡婷婷
优先权 ：
CN201920757010.8
主分类号 ：
G01B5/00
IPC分类号 ：
G01B5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2020-02-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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