一种继电器耐久性测试装置

授权

摘要

本实用新型公开一种继电器耐久性测试装置，包括若干继电器、第一电源、第二电源、MCU及霍尔传感器；每个继电器包括线圈、第一触点及第二触点并设有一对连接线圈的输入端和一对连接第一触点与第二触点的输出端，每个继电器还在一个输入端设有与第一电源相连的开关；第一电源经输入端与开关将若干继电器并联；第二电源经输出端将若干继电器与霍尔传感器串联成输出回路；霍尔传感器感应输出回路中是否有电流并将结果传给MCU，MCU控制每个开关的通断与记录每个开关的通断次数，与现有技术相比，本实用新型通过MCU来控制开关的通断与记录开关的通断次数，并能连续测试多个继电器的耐久性，有效节省人力成本并有效提高测试效率。

基本信息

专利标题：

一种继电器耐久性测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920795980.7

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-05-28

授权号：

CN210665954U

授权日：

2020-06-02

发明人：

李穷邵振东钱伟

申请人：

安徽沃博源科技有限公司

申请人地址：

安徽省六安市舒城县杭埠镇南聚产业园

代理机构：

北京天盾知识产权代理有限公司

代理人：

黄鹏飞

优先权：

CN201920795980.7

主分类号：

G01R31/327

IPC分类号：

G01R31/327