温度继电器的测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种温度继电器的测试装置，包括：集成电路板、主控芯片、按键、至少两个温度测试接口、与每个温度测试接口一一对应的温度传感器和与每个温度测试接口一一对应的显示组件，按键、每个温度传感器、每个显示组件和每个温度测试接口均与主控芯片相连，主控芯片、按键、每个显示组件和每个温度测试接口均固定设置于集成电路板上，温度传感器可拆卸地固定于被测温度继电器上，若按键将测试装置设置为温度检测模式，主控芯片控制供电电源为被测温度继电器供电，获取被测温度继电器输出的电平值，若电平值表示高电平，获取温度传感器采集的当前的温度值，并通过显示组件显示温度值，以实现对温度继电器的无人测量，和同时多个测量。
基本信息
专利标题 ：
温度继电器的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921165144.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-23
授权号 ：
CN210572617U
授权日 ：
2020-05-19
发明人 ：
霍风祥李涛李鹏飞
申请人 ：
北京京瀚禹电子工程技术有限公司
申请人地址 ：
北京市昌平区沙河镇松兰堡村西海特光电院内办公楼1层102室
代理机构 ：
北京细软智谷知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
张合成
优先权 ：
CN201921165144.7
主分类号 ：
G01R31/327
IPC分类号 ：
G01R31/327
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/327
•电路断续器、开关或电路断路器的测试
法律状态
2020-05-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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